提供優(yōu)質測試探針批發(fā)和定制
文章出處：行業(yè)資訊 責任編輯：深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量：- 發(fā)表時間：2019-11-08 10:22:00
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測試探針是由針頭、針管、探針彈簧組成。用戶買回來的測試探針，
一、應先觀察測試探針的套管是否彎曲；
二、觀察測試探針的套管的鍍金顏色；
二、先按壓一下測試探針，看其彈簧是否卡頓
如出現上述問題時，應怎么解決呢？
一、當發(fā)現測試探針的套管彎曲時，應先挑出來，不要著急安裝在機器上
二、發(fā)現測試探針的鍍金顏色不好時、應立馬與供應商聯系
三、如已安裝在機器上，發(fā)現測試時卡頓，不要再繼續(xù)使用，與供應商聯系，看是否退回來處理。
探針測試行業(yè)發(fā)展趨勢（1）設備將向高精度化方向發(fā)展現階段半導體器件主要通過提高集成度的方式實現更多功能或更快響應。為此，半導體制造過程一般會縮小器件特征尺寸，如高端邏輯芯片的電路制程線寬已由微米級別縮小至納米級別，最小已達3納米；在光電芯片中，最小的Micro LED尺寸也已經縮小至50μm以下。此外，為避免器件集成度提高后單位制造成本過度上漲，業(yè)界一般使用更大尺寸的晶圓，通過在單片晶圓片上制造更多的芯片并提高邊緣區(qū)域使用率的方法降低單位制造成本，目前主流晶圓尺寸已從4英寸、6英寸，逐步發(fā)展到8英寸和12英寸。
2022-05-30
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