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小探針,大學問,半導體測試貫穿IC全產(chǎn)業(yè)鏈,探針該如何選擇?
2022-07-11
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產(chǎn)品名稱:P189-A
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、杯頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段
聯(lián)系熱線:400-183-6682
產(chǎn)品名稱:R189-4S
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.56mm套管、探針套管、彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段
聯(lián)系熱線:400-183-6682
產(chǎn)品名稱:P189-J
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、直上圓頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段
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產(chǎn)品名稱:P189-H
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、梅花頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段
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產(chǎn)品名稱:P189-G
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、平頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段
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產(chǎn)品名稱:P189-E
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、圓錐頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
產(chǎn)品優(yōu)勢:通過對在線元器件的電性能及電氣連接進行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標準測試手段
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產(chǎn)品名稱:P189-D
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、大圓頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
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產(chǎn)品名稱:P189-B
所屬分類:ICT測試探針
產(chǎn)品簡介:3.16mm探針、尖頭彈針、表筆探針、測試探針、頂針、彈簧針、PCB測試針、ICT測試針、測試架探針
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